2018.03.12  ブログ 

特許庁が提供する特許情報プラットフォーム(J-PlatPatの検索機能が追加されました。
審査官端末で使用できる機能の一部が追加されたとのことです。

<追加機能>
機能1.特許分類とキーワードを掛け合わせた検索
機能2.近傍検索
機能3.外国特許公報(米国・欧州・国際出願)の英文テキスト検索

<改善機能>
機能4.国内の公開特許公報等のテキスト検索が可能な期間の拡大
機能5.検索結果表示件数の上限拡大

小職は開業してまだ間もない頃、特許庁の審査官端末を用いた検索の研修(検索エキスパート研修)に参加したことがあります。当時は特許電子図書館(IPDL)の時代であり、現在のJ-PlatPatよりももっと検索機能が制限されていましたので、審査官端末とIPDLの機能の差に驚いたのを今でも覚えています。結局、審査官端末と同等の機能を使うため、当時最大手だった会社の有料の検索ツールを使い始めることにしました。現在は、特許情報の検索機能に加えて、SDIなどの他の機能がついており、解析ツールとの整合性もよい別の会社の有料データベースを使っていますが、検索だけを目的にするのであれば、J-PlatPatでもかなりの調査ができるようになってきていると思います。もっとも、正しい検索スキルを身につければという前提がつきますので、検索スキルを身につけたい方には、上述の研修会はお勧めです。


参考
特許審査官が用いる検索機能が利用可能になります~特許情報プラットフォーム(J-PlatPat)の新機能について~(経産省ウェブサイトより)